23 października prof. Robert Feidenhans'l, dyrektor zarzadzający European XFEL GmbH oraz prof. Krzysztof Kurek, dyrektor NCBJ podpisali aneks do umowy NCBJ-XFEL, a także porozumienie w sprawie wdrożenia projektu – Scientific Big Data Analysis. Delegacja XFEL spotkała się także z potencjalnymi polskimi użytkownikami lasera.

Wizyta zarządu Eu-XFEL była okazją do rozmów o współpracy instytucji oraz zdefiniowania możliwości i potrzeb wspólnych projektów przede wszystkim dotyczących przetwarzania danych generowanych podczas eksperymentów naukowych na laserze na swobodnych elektronach w Hamburgu.

Centrum Informatyczne Świerk to jeden z największych ośrodków informatycznych w Polsce, który dysponuje kompetencjami w przetwarzaniu tak dużej ilości danych jak te, które od ponad 2 lat powstają w eksperymentach na Europejskim Rentgenowskim Laserze na Swobodnych Elektronach. CIŚ dysponuje doświadczeniem w operacjach nad danymi eksperymentalnymi z wielkich eksperymentów. Centrum, które posiada status węzła Tier-2, to jedno z głównych miejsc gromadzenia i obróbki danych dla detektora LHCb – jednego wielkich eksperymentów prowadzonych przy Wielkim Zderzaczu Hadronów LHC w CERN. Te kompetencje i doświadczenie wkrótce będą służyły również użytkownikom XFELa, wśród których powinni się znaleźć także polscy naukowcy. 

Po uroczystości podpisania porozumienia z NCBJ, w drugiej części swojej wizyty w Warszawie, zarząd Eu-XFEL spotkał się z członkami Konsorcjum XFEL-Polska oraz z polskimi użytkownikami źródeł XFEL. Pracownicy Eu-XFEL zaprezentowali możliwości pomiarowe z wykorzystaniem źródeł XFEL, w szczególności najnowocześniejszego oddanego do niedawna do użytku w Hamburgu. Swoje plany współpracy bądź już trwające prace zaprezentowali naukowcy z Wydziału Fizyki PW, IFJ PAN, Wydziału Fizyki UAM, AGH oraz Wydział Chemii UW. M.in. dr hab. Jerzy Antonowicz z Wydziału Fizyki PW opowiedział o wynikach kierowanych przez polskich naukowców najnowszych badań z wykorzystaniem Eu-XFEL dotyczących ultraszybkich zmian strukturalnych w wyniku topnienia i krystalizacji metali. Dr hab. Jakub Szlachetko przedstawił tematykę badań z wykorzystaniem źródeł XFEL prowadzonych w IFJ PAN, m.in. związanych z mechanizmami niszczenia i naprawy DNA czy też nieliniowymi procesami w fizyce atomowej.

„Europejski XFEL jest wyjątkowym źródłem silnych, ultrakrótkich impulsów spójnego promieniowania rentgenowskiego, którego zastosowanie otwiera nowe możliwości pomiarowe w wielu dyscyplinach nauki i technologii wpływających na nasze codzienne życie, w tym w medycynie, farmakologii, chemii, materiałoznawstwie, nanotechnologii, energetyce i elektronice" – mówił dr. hab. Ryszard Sobierajski z IF PAN będącego liderem Konsorcjum naukowo-badawczego XFEL-Polska, skupiającego 28 polskich instytucji. „Konsorcjum umożliwia wymianę doświadczeń pomiędzy naukowcami już wykorzystującymi promieniowanie ze źródeł XFEL a ich nowymi użytkownikami. W niedalekiej przyszłości ilość wykonywanych eksperymentów na źródle XFEL w Hamburgu zostanie znacząco zwiększona. Aby móc w pełni wykorzystać oferowany potencjał naukowy, konieczne jest przygotowanie do tego polskiej kadry naukowej m.in. poprzez takie spotkania jak dzisiejsze.”

Po południu, w trzeciej części wizyty, delegacja XFEL GmbH spotkała się z dyr. Mateuszem Gaczyńskim - Zastępcą Dyrektora Departamentu Innowacji i Rozwoju Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego w obecności przedstawicieli NCBJ. Naukowcy przedstawili plany dalszej współpracy z NCBJ w zakresie analizy danych eksperymentalnych z infrastruktury badawczej XFEL oraz przeprowadzili rozmowy zmierzające do wyjaśnienia warunków uzyskania wsparcia z Programu Ministra „Projekty Międzynarodowe Współfinansowane” obejmującego współprace z zagranicznymi instytucjami w zakresie wykorzystania dużych infrastruktur badawczych.