Skaningowa mikroskopia elektronowa


Wyposażenie laboratorium stanowi skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) ThermoFisher Scientific Helios 5 UX wykorzystujący działo elektronowe z emisją polową (Schottky Field Emission Gun). Mikroskop wyposażony jest w spektrometr EDS (z ang. energy-dispersive X-ray spectroscopy) EDAX Octane Elite Plus pozwalający na prowadzenie analizy składu chemicznego w mikroobszarach oraz kamerę EDAX Velocity Pro wykorzystywaną w technice dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) pozwalającą na badania orientacji krystalograficznych ziaren w materiale. Mikroskop wyposażony jest ponadto w kolumnę jonów Ga+ pozwalającą na preparatykę próbek dla mikroskopii transmisyjnej (TEM) techniką focused ion beam (FIB) jak też rekonstrukcję 3D mikrostruktury materiałów.

SEM


Możliwości badawcze laboratorium skaningowej mikroskopii elektronowej obejmują m.in.: obserwację topografii powierzchni, analizę wielkości cząstek lub wydzieleń, analizę grubości warstw, analizę składu chemicznego metodą EDS (analiza punktowa, liniowa, rozkład pierwiastków), rozkład wielkości ziaren w materiale, analizę tekstury materiałów po procesach przeróbki plastycznej, rekonstrukcję 3D mikrostruktury, preparatykę próbek dla mikroskopii TEM metodą FIB.

Transmisyjna mikroskopia elektronowa


Wyposażenie laboratorium transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM) stanowi wysokorozdzielczy mikroskop JEOL JEM F-200 wyposażony w działo elektronowe z emisją polową (Schottky Field Emission Gun). Mikroskop pozwala na prowadzenie obserwacji zarówno w trybie TEM (rozdzielczość: 0.06 nm) jak i w trybie skaningowo-transmisyjnym STEM (rozdzielczość: 0.16 nm). Ponadto mikroskop wyposażony jest w dwudetektorowy system mikroanalizy rentgenowskiej EDS (z ang. energy-dispersive X-ray spectroscopy) pozwalający na prowadzenie analizy składu chemicznego w trybie punktowym, liniowym lub poprzez mapowanie rozkładu pierwiastków chemicznych. Badania prowadzone są na próbkach o grubości poniżej 100 nm wykonanych metodami polerowania elektrolitycznego lub wiązką jonów. Laboratorium dysponuje również uchwytami do prowadzenia obserwacji in-situ w wysokiej temperaturze (do 1000°C) oraz badań deformacji materiałów.

TEM


Możliwości badawcze laboratorium obejmują obserwacje TEM w jasnym oraz ciemnym polu (BD/DF), analizę fazową z wykorzystaniem dyfrakcji elektronów (SAED), obrazowanie wysokorozdzielcze (HRTEM), obserwacje w trybie skaningowo-transmisyjnym (BF lub HAADF) oraz analizę składu chemicznego w mikroobszarach.  

Zapytaj o szczegóły:

dr Iwona Jóźwik – Kierownik Grupy Badawczej Charakteryzacji Materiałów
numer telefonu: 22 273 1448
adres email: Iwona.Jozwik@ncbj.gov.pl